ADC芯片测试、FPGA机电物理仿真、Labview+大模型等|芯片测试线下技术研讨会（8月5日 苏...

主要观点总结

这是一篇关于NI测试测量技术研讨会的文章，文章介绍了大会的基本信息、论坛议程、演讲摘要和重磅展品。

关键观点总结

关键观点1: 大会基本信息

文章介绍了NI测试测量技术研讨会的基本信息，包括会议的目的、时间和地点。

关键观点2: 论坛议程剧透

文章列出了论坛的议程，包括LabVIEW最新技术和全新框架的介绍，新产品的展示，以及关于SMU、CSM、VST等相关内容的演讲。

关键观点3: 演讲摘要

文章提供了各演讲的摘要，包括如何在本地快速部署开源大模型，SMU应对高性能DC测试的挑战，CSM开源框架助力数据采集高效开发，以及NI在前沿射频技术研究与应用中的最新方案等。

关键观点4: 重磅展品

文章介绍了展会上将展示的重磅展品，包括LabVIEW+开源大模型的实机演示，全新数据采集产品系列，半导体数模转换芯片测试方案等。

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