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主要观点总结

本文介绍了一种事件响应式的电子显微镜方法，通过测量达到电子计数阈值所需的时间来提高每个电子获得的信息量。这种方法被应用于对束敏感样本的成像，如沸石和人类单核细胞。研究背景、研究问题、要点、总结与展望都被详细阐述。

关键观点总结

关键观点1: 研究背景

电子光学、探测器和光谱仪的进步促进了扫描透射电子显微镜（STEM）的蓬勃发展。然而，要在足够低的电子束剂量下最小化样本损伤，同时保证足够的信噪比（SNR）可靠地测量所需信息充满挑战。透射电子显微镜的巨大限制是由其高能电子与样本相互作用造成的损伤，这导致探测结果的不确定性。

关键观点2: 研究问题

本文通过重新思考成像的基本原理，展示了一种事件响应式的电子显微镜方法，通过测量达到电子计数阈值所需的时间来提高每个电子的信息获取量。这种方法自动分配剂量以达到每个像素中给定的信噪比，消除了与信息回报递减相关的过量剂量。

关键观点3: 方法要点

本文使用固态探测器和单个电子敏感的探测器替代基于闪烁体的探测器，减少了高斯噪声效应。在低剂量下，显微镜中发生的过程可能偏离传统的剂量制度。本文比较了在无限剂量和低剂量下模拟的STEM信号，展示了单电子探测的重要性。此外，本文还使用了信息论来比较不同的检测方法。

关键观点4: 实验验证

文章通过对生物组织和沸石进行成像，证明了该方法对束敏感材料的广泛适用性。此外，还展示了事件响应式成像在剂量控制方面的优势，以及对束敏感沸石的事件响应式ADF成像。

关键观点5: 总结与展望

事件响应式显微镜代表了电子显微镜中成像的一个新方向，尤其是在剂量关键的情况下。事件响应式成像受益于固有的剂量调节，为束敏感材料的实验设计提供了新的途径。

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