倒计时2天！NI测试测量技术研讨会深圳站|AI+芯片测试

主要观点总结

本文是关于NI测试测量技术研讨会的活动信息，该研讨会以AI+测试为主题，将在十个城市展开，共同探讨AI+测试的落地应用。文章提供了活动的详细信息，包括时间、地点、日程安排等。

关键观点总结

关键观点1: 研讨会基本信息

NI测试测量技术研讨会再次由深圳起航，以AI+测试为主题，走遍十个城市，与全国各地朋友相聚，共同探讨AI+测试的落地应用。

关键观点2: 活动时间和地点

活动将于2025年12月10日（星期三）在深圳市威斯汀酒店宴会厅1+2举行。签到时间为活动开始前一小时，即12点开始签到。

关键观点3: 研讨会内容

研讨会将分享最新的AI+测试进展，深入探讨如何实现技术落地。同时，还有技术专家面对面分享最新测试技术成果，提高测试精度技巧，并解读各种疑难问题。此外，还将发布多款全新的软硬件产品。

关键观点4: 适合参加的人群

测试测量工程师、研发工程师、工程团队负责人、技术总监、院校及研究所研究人员、LabVIEW爱好者和开发者都适合参加此次研讨会。

关键观点5: 日程安排和实机展示

研讨会包括NI Nigel ™ AI助手体验、通过配置快速完成PXI自动化测试任务、传感器配置与数据记录的软件展示，以及射频通信原型验证平台USRP、全新数据采集产品的更新等内容。此外，还将展示24bit高精度模数转换芯片（ADC）芯片测试系统、多通道、大电流电源管理芯片(PMIC)测试系统以及全新双通道矢量信号收发仪VST-5860。