倒计时4天！芯片测试、射频测试研讨会[8.19 杭州]

主要观点总结

本次NI测试测量技术研讨会将聚焦LabVIEW最新技术和全新框架，以及新产品介绍和应用方案展示。研讨会将探讨测试测量新技术发展和应用，苏州站活动包括论坛议程剧透、演讲摘要和重磅展品等。报名参与有机会获得Beats耳机等现场抽奖奖品。

关键观点总结

关键观点1: 会议基本信息

会议时间、地点、日程安排和报名信息。

关键观点2: LabVIEW最新技术和全新框架

会议将重点讨论LabVIEW的最新技术和框架，包括开源大模型的应用、SMU应对高性能DC测试的挑战以及新一代矢量信号收发仪的应用等。

关键观点3: 产品介绍和应用方案展示

会议将展示新产品及其解决方案，如CSM开源框架和全新数据采集产品系列等。

关键观点4: 苏州及周边产业特点的技术交流

会议将根据苏州及周边城市的产业特点，选择工程师和技术专家最感兴趣的话题进行深入交流。

关键观点5: 现场抽奖活动

参会者可参与现场抽奖活动，有机会获得Beats耳机等奖品。