AT32讲堂086 | 雅特力AT32 MCU的随机数生成

主要观点总结

本文主要介绍了雅特力科技的产品AT32微控制器系列在提高随机数质量方面的方法和实例。包括使用ADC误差和SRAM内容的不确定性两种方法提高随机数的乱度。文章还介绍了基于NIST统计测试集对生成的随机数进行测试的结果，以及雅特力科技的一些基本信息。

关键观点总结

关键观点1: AT32微控制器系列提高随机数质量的方法

介绍了使用ADC误差和SRAM内容的不确定性两种方法提高随机数的乱度。ADC配置和DMA配置的方法以及代码示例。利用这些方法在上电后执行，获得一个随机数种子，之后利用标准C函式库中的随机数生成器产生后续的随机数。

关键观点2: 基于NIST统计测试集的测试

对生成的随机数进行了NIST统计测试集的分析和测试，包括统计测试集源程序的下载和运行结果。测试结果显示，生成的随机数符合统计要求，具有良好的随机性。

关键观点3: 雅特力科技简介

介绍了雅特力科技是一家致力于推动全球市场32位微控制器(MCU)创新趋势的芯片设计公司，拥有领先的高端芯片研发技术。雅特力全系列产品通过ISO 9001质量管理体系认证，广泛应用于工控、电机、车载、消费等领域。