ADC芯片测试、FPGA机电物理仿真、Labview+大模型等|芯片测试线下技术研讨会（8月5日 苏...

主要观点总结

本文介绍了即将举行的研讨会内容，主要聚焦LabVIEW最新技术和全新框架，新产品介绍及应用方案展示。研讨会还将根据城市产业特点，与工程师和技术专家进行深入交流，共同探讨测试测量新技术发展和应用，苏州站即将启动，诚邀各界人士相聚共同探讨智能测试的未来。

关键观点总结

关键观点1: 聚焦LabVIEW最新技术和全新框架

研讨会将重点介绍LabVIEW的最新技术和框架，为参与者提供最新的技术信息。

关键观点2: 新产品介绍及应用方案展示

除了技术介绍，研讨会还将展示新产品和相关的应用方案，帮助参与者了解产品的实际应用情况。

关键观点3: 与工程师和技术专家进行深入交流

研讨会将根据城市产业特点，与工程师和技术专家进行深入交流，共同探讨测试测量新技术发展和应用。

关键观点4: 苏州站即将启动

此次研讨会的苏州站即将启动，邀请各界人士参加，共同探索智能测试的未来。

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