芯片测试线下技术研讨会报名：Wifi7、ADC芯片测试展示等（8月5日 苏州）

主要观点总结

本文介绍了即将举行的研讨会，重点聚焦LabVIEW最新技术和全新框架，新产品及应用方案展示，探讨测试测量新技术的发展和应用。此次研讨会将结合城市产业特点，邀请工程师和技术专家进行深入交流，苏州站即将启动，诚邀各界人士相聚共同探讨智能测试领域的发展。

关键观点总结

关键观点1: 研讨会聚焦LabVIEW最新技术和全新框架

研讨会将展示最新的LabVIEW技术和框架，为参与者提供学习和了解的机会。

关键观点2: 新产品及应用方案展示

研讨会上将展示新产品和应用方案，为参与者提供实际应用案例的参考。

关键观点3: 探讨测试测量新技术发展

研讨会将结合工程师和技术专家的意见，共同探讨测试测量新技术的发展方向。

关键观点4: 结合城市产业特点进行深入交流

研讨会将根据城市产业特点安排交流内容，为参与者提供更多行业相关的洞见。

关键观点5: 苏州站即将启动

文章强调了苏州站即将启动，诚邀各界人士参与共同探讨智能测试领域的发展。

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