芯片测试线下技术研讨会（8月5日 苏州）

主要观点总结

本文描述了关于NI公司在中国的研讨会，该研讨会将聚焦LabVIEW最新技术和全新框架，以及新产品介绍和应用方案展示。文章还提到根据城市产业特点，与工程师和技术专家进行深入交流，共同探讨测试测量新技术的发展和应用。

关键观点总结

关键观点1: 研讨会主题

聚焦LabVIEW最新技术和全新框架，进行新产品介绍及应用方案展示。

关键观点2: 城市产业特点

根据城市产业特点，选择工程师和技术专家最感兴趣的话题进行深入交流。

关键观点3: 探讨内容

共同探讨测试测量新技术的发展和应用的挑战。

关键观点4: 苏州站活动

苏州站即将启动，诚邀各方相聚共同应对智能测试的挑战。

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