主要观点总结
文章介绍了半Heusler(HH)窄带隙半导体中的压电效应及其能量收集技术。浙江大学朱铁军教授团队在半Heusler化合物TiNiSn、ZrNiSn和TiCoSb中观察到了显著的压电效应,其中ZrNiSn和TiCoSb的剪切压电应变系数达到约38和33 pC/N。这些材料在高温下展现出良好的热稳定性和机械稳定性,适合用于高端压电器件和传感器。研究成果发表在《Science》上。
关键观点总结
关键观点1: 半Heusler窄带隙半导体中的压电效应研究。
浙江大学朱铁军教授团队在半Heusler化合物TiNiSn、ZrNiSn和TiCoSb中观察到了显著的压电效应,这些材料的压电性能在高温下仍然保持稳定。
关键观点2: 半Heusler化合物的压电性能。
半Heusler化合物TiNiSn、ZrNiSn和TiCoSb表现出较高的压电应变系数,其中ZrNiSn和TiCoSb的剪切压电应变系数分别为约38和33 pC/N。
关键观点3: 半Heusler化合物在压电传感器中的应用前景。
基于单晶TiCoSb的压电传感器展示出了显著的压电响应,为半Heusler化合物在压电领域的应用提供了广阔的前景。
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