Science | 事件响应（Event-responsive）扫描透射电子显微术

主要观点总结

本文主要介绍了事件响应显微术在扫描透射电子显微镜（STEM）技术中的应用。事件响应显微术通过精确控制电子束剂量，实现了在保持图像质量的同时降低样品损伤的目标。文章还详细描述了事件响应成像的技术原理、实践案例及其在未来领域的应用前景。

关键观点总结

关键观点1: 事件响应显微术在STEM技术中的应用

事件响应显微术是一种新型的电子显微技术，通过精确控制电子束剂量，实现了在保持图像质量的同时降低样品损伤的目标。该技术主要应用于ADF成像，但在与其他先进技术结合时具有广泛的应用前景。

关键观点2: 事件响应成像的技术原理

事件响应成像的技术原理是基于事件响应的显微成像技术，通过测量达到电子计数阈值所需的时间，而不是等待固定时间，来提高每个电子获得的信息量。该技术通过电子束消隐器系统在达到预定检测计数后停止电子束照射，从而减少总电子通量。

关键观点3: 实践案例

文章介绍了一些实践案例，包括在人源单核细胞观察和沸石成像中的应用。研究结果表明，事件响应成像技术能够在保持图像质量的同时显著降低样品所受电子束辐射剂量，为电镜在生物样品观察等领域的应用开辟了新途径。

关键观点4: 事件响应成像的应用前景

事件响应成像技术具有广泛的应用前景，特别是在材料科学、生物学等领域。该技术的自适应性和灵活性使得研究易损材料成为可能，推动了相关领域的创新与进步。