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倒计时2天!ADC芯片测试、FPGA机电物理仿真、Labview+大模型等|芯片测试线下技术研讨会(...

EETOP  · 公众号  · 硬件  · 2025-08-03 09:05
    

主要观点总结

本文是关于NI测试测量技术研讨会在苏州的会议信息,会议聚焦于LabVIEW最新技术和全新框架,新产品的介绍及应用方案展示。文章还包含了会议的时间、地点、论坛议程、演讲摘要和重磅展品等信息。

关键观点总结

关键观点1: 会议主题

NI测试测量技术研讨会苏州站,聚焦LabVIEW最新技术和全新框架,包括新产品介绍和应用方案展示。

关键观点2: 会议时间和地点

活动时间为2025年8月5日,地点为苏州洲际酒店二楼大宴会厅C。

关键观点3: 论坛议程和演讲摘要

包括LabVIEW与全新开源大模型的结合、SMU应对高性能DC测试挑战、CSM开源框架助力数据采集高效开发,以及前沿射频技术研究的最新方案等。

关键观点4: 重磅展品

包括LabVIEW+开源大模型的实机演示、LabVIEW CSM开源框架、全新数据采集产品系列等。

关键观点5: 会议抽奖

会议还设有抽奖活动,奖品包括Beats耳机、小米桌上风扇和妙界颈部按摩仪等。


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